I. ПРИМЕНЕНИЕ

Микроскоп для обнаружения кремниевых пластин с открытым темным полем серии ZXGP - 500 предназначен для микроскопического наблюдения кремниевых пластин солнечных батарей. Этот прибор оснащен большим диапазоном движущихся несущих станций, падающих осветительных приборов, плоских ахроматических объективов с большим рабочим расстоянием, окуляров с большим полем обзора, четким изображением, хорошей футеровкой, а также поляризационным устройством и его высокой пиксельной цифровой камерой. Этот прибор оснащен объективом темного поля, что делает изображение более ясным при наблюдении за кремниевыми пластинами, является идеальным инструментом для обнаружения микроморфологического распределения « пирамиды» кремниевых пластин солнечных элементов и анализа дефектов кремниевых пластин.

Микроскоп для обнаружения кремниевых пластин может наблюдать дислокации, царапины, обвалы и так далее, которые трудно наблюдать невооруженным глазом; Можно также проанализировать состав примесей и остатков кремниевых пластин. примеси включают: частицы, органические примеси, неорганические примеси, ионы металлов, кремниевую пыль и так далее, в результате чего кремниевые пластины после шлифования подвержены цветению, синести, чернению и другим явлениям, так что шлифовка не подходит. Является одним из широко используемых измерительных приборов при производстве солнечных батарей.

Технические стандарты