Минерально - фазовые микроскопы серии XPMV - 500 в основном используются в геологических изысканиях (региональная геологическая разведка, морская геологическая разведка, гидрогеологическая разведка, инженерно - геологическая разведка, экологическая геологическая разведка, разведка твердых полезных ископаемых, геохимическая разведка), в электронной, металлургической, химической и инструментальной промышленности для наблюдения за полупрозрачными или непрозрачными материалами, такими как минералы, металлическая керамика, интегральные блоки, печатные платы, жидкокристаллические пластины, тонкие пленки, волокна, покрытие и другие неметаллические материалы, подходящие для геологоразведочных, школьных и научно - исследовательских отделов для проведения наблюдени Эта серия приборов может использоваться в качестве наблюдения за одной поляризацией, наблюдения за конусом и наблюдения за ортогональной поляризацией.

Характеристики производительности

Используется неограниченная дальняя оптическая система и модульный функциональный дизайн.

Настройка объективов с плоским полем с бесконечно большим расстоянием без напряжений.

Широкоугольный окуляр с плоским полем: диаметр поля зрения F22 мм.

* Грубый микродвижущийся коаксиальный механизм фокусировки, грубое рыхление регулируемое, с ограничительным замком, значение микродвижущейся решетки: 2 мкм.

Устройство наблюдения поляризации может перемещать или удалять световой путь, а дефлектор и дефлектор могут вращаться на 360 °.

* Вращающийся грузовой стол, равноделительная шкала 360°, значение рейнджера 6 ', центр регулируемый, с запирающим устройством, рабочий стол вертикальный эффективный ход до 30 мм.

Источник питания широкого напряжения (85 - 265В 50 / 60Гц). 6V30Вт освещения галогенных ламп с регулируемой яркостью.

Тройной окулярный цилиндр может свободно переключать визуальное наблюдение и микрофотографию, 90% пропускает свет при фотографировании, подходит для микроскопической съемки с низкой освещенностью.

Стандартная конфигурация

Выбор запчастей