Поляризованный микроскоп XPL - 1 / XPL - 2 является необходимым инструментом для изучения и идентификации материала с двойным преломлением с использованием поляризационных свойств света, который позволяет широкому кругу пользователей проводить прозрачные однополярные наблюдения, ортогональные поляризационные наблюдения, конические наблюдения. Широко используется в геологических, химических, медицинских, фармацевтических и других областях исследований и испытаний, а также может быть проведено наблюдение кристаллической фазы жидких высокомолекулярных материалов, биополимеров и жидкокристаллических материалов, является научно - исследовательским институтом и высшими учебными заведениями для проведения исследований и обучения.